Estudio de la nanoestructura de películas delgadas semiconductoras utilizando microscopia de fuerza atómica

Ruiz, Facundo;0000-0001-6589-5958

dc.contributor.author	Ruiz, Facundo;0000-0001-6589-5958
dc.date.accessioned	2015-03-18T16:29:16Z
dc.date.available	2015-03-18T16:29:16Z
dc.date.issued	1995-09
dc.identifier.uri	https://repositorioinstitucional.uaslp.mx/xmlui/handle/i/3236
dc.language.iso	spa	es_MX
dc.publisher	Facultad de Ciencias	es_MX
dc.relation	Investigadores	es_MX
dc.relation	Estudiantes	es_MX
dc.relation.isformatof	versión publicada	es_MX
dc.rights	Acceso Abierto
dc.rights	Acceso abierto	es_MX
dc.subject	Películas delgadas	es_MX
dc.subject.other	1 CIENCIAS FISICO MATEMATICAS Y CIENCIAS DE LA TIERRA	es_MX
dc.title	Estudio de la nanoestructura de películas delgadas semiconductoras utilizando microscopia de fuerza atómica	es_MX
dc.type	Tesis de Doctorado	es_MX
dc.rights.rights	http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0	es_MX